非接觸光學(xué)測厚儀

產(chǎn)品簡介
非接觸光學(xué)測厚儀是一款基于光譜共焦成像技術(shù)的測量設(shè)備，專為微米級精密檢測需求設(shè)計(jì)。該設(shè)備通過寬光譜LED光源發(fā)射復(fù)色光，經(jīng)色散透鏡聚焦形成連續(xù)波長焦點(diǎn)，精準(zhǔn)捕捉物體表面反射的共焦波長信號，結(jié)合高速光譜分析算法，實(shí)現(xiàn)單點(diǎn)最高10kHz的采樣頻率與0.1μm的超高分辨率。設(shè)備設(shè)備采用天然花崗巖平臺和隱藏式倒放探頭，提供穩(wěn)定的測量基準(zhǔn)以及減少放樣障礙，支持透明/非透明材料單層或多層厚度（如涂層+基材

產(chǎn)品型號：SR-CHY-01

更新時(shí)間：2025-07-31

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品簡介

非接觸光學(xué)測厚儀是一款基于光譜共焦成像技術(shù)的測量設(shè)備，專為微米級精密檢測需求設(shè)計(jì)。該設(shè)備通過寬光譜LED光源發(fā)射復(fù)色光，經(jīng)色散透鏡聚焦形成連續(xù)波長焦點(diǎn)，精準(zhǔn)捕捉物體表面反射的共焦波長信號，結(jié)合高速光譜分析算法，實(shí)現(xiàn)單點(diǎn)最高10kHz的采樣頻率與0.1μm的超高分辨率。設(shè)備設(shè)備采用天然花崗巖平臺和隱藏式倒放探頭，提供穩(wěn)定的測量基準(zhǔn)以及減少放樣障礙，支持透明/非透明材料單層或多層厚度（如涂層+基材）的同步無損檢測，應(yīng)用于光學(xué)玻璃制造領(lǐng)域.

產(chǎn)品特點(diǎn)

1、寬量程（ ±2000μm），高分辨率 (100納米)，線性誤差 < ±0.8 μm

2、無接觸被測物表面，避免了劃傷、壓痕或應(yīng)力影響

3、內(nèi)嵌倒置探頭，防止探頭影響放樣路徑

4、測量速度快(每秒10000點(diǎn))，適合動(dòng)態(tài)過程監(jiān)控

5、支持多層厚度測量

6、靈活的觸發(fā)模式（手動(dòng)、實(shí)時(shí)）

7、數(shù)據(jù)帶序列號（可掃碼槍匹配）

8、支持?jǐn)?shù)據(jù)上下限管理（合格判定）

9、實(shí)時(shí)可視化（厚度值、表格、譜圖）

10、便捷的數(shù)據(jù)導(dǎo)出（TXT, EXCEL, HTML）

產(chǎn)品參數(shù)

非接觸光學(xué)測厚儀
基本參數(shù)
工作距離	38mm
量程	±2000μm
分辨率	0.1μm
線性誤差	＜±0.8μm
溫度特性	<±0.03% F.S
最小厚度	5% of F.S.(F.S.=4000um）
測量角度范圍	±21°（支持微曲面測量）
測量速度	最高10kHz（單點(diǎn)）
探頭參數(shù)
光源類型	高亮度LED寬光譜光源
光斑直徑	Φ16μm/Φ32μm/Φ256μm
連接方式	FC/PC接口光纖
*尺寸（外徑長度）**	Φ36*126.1mm
工作環(huán)境
工作溫度	0°C~50°C
存儲溫度	-20°C~70°C
防護(hù)等級	IP40（標(biāo)準(zhǔn)）
抗干擾能力	不受環(huán)境光、表面傾斜（±21°內(nèi)）影響
濕度范圍	20%~85% RH
工作平臺
探頭調(diào)節(jié)	工作面以下，0-50mm升降
平臺材質(zhì)	天然花崗石
尺寸	600mm600mm50mm
硬度	莫氏硬度6-7級
線膨脹系數(shù)	4.6×10??/℃
耐腐蝕性	耐酸、堿、磁化，不生銹，無需涂油維護(hù)
粗糙度	工作面Ra 0.32-0.63μm
抗損傷性	碰撞僅產(chǎn)生凹坑，無凸起毛刺，不影響測量精度
設(shè)備整體
空間尺寸	600mm600mm1575mm
平臺高度	930mm
電源	220AC 50/60HZ
功率	80W
軟件功能
觸發(fā)模式	手動(dòng)觸發(fā)、實(shí)時(shí)觸發(fā)
序列號	測試數(shù)據(jù)匹配序列號（可配掃碼槍）
數(shù)據(jù)范圍	支持?jǐn)?shù)據(jù)上下限管理
可視化	實(shí)時(shí)厚度、數(shù)據(jù)表格、變化譜圖
數(shù)據(jù)導(dǎo)出	TXT、EXCEL、HTML
多層測量	支持透明材料多層厚度同步檢測（如涂層+基材）
拓展功能	MES、RS485通信（可定制）